潛伏缺點圖3 。圖3前端流程中的掃描和搜檢電氣挑選也在多個階段實行，賽后例如晶圓驗收測試老化測試和晶圓級晶粒分類，賽后和動態(tài)部件平均值測試，以消弭電氣異常值 。最后 ，所有晶圓都要接受完全的主動化出廠搜檢